ION-TOF USA

ION-TOF USA est un fournisseur leader d'instruments innovants pour l'analyse de surface, spécialisé dans les spectromètres de masse d'ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS) et la technologie de diffusion d'ions à basse énergie (LEIS) à haute sensibilité. Située au 100 Red Schoolhouse Road, Building A8, Chestnut Ridge, NY 10977, États-Unis, ION-TOF USA se consacre à faire progresser le domaine de la recherche en nanotechnologie grâce à une instrumentation de pointe et des solutions complètes de caractérisation 3D, y compris les SIMS et AFM combinés. ION-TOF USA est également l'agent américain exclusif pour les microscopes à force magnétique (MFM) et les produits de microscopie à sonde à balayage (SPM) de NanoScan.

L'engagement d'ION-TOF USA envers l'excellence et l'innovation technologique en a fait un partenaire de confiance pour les chercheurs et les développeurs de divers secteurs. En mettant l'accent sur la fourniture d'outils fiables et de haute qualité, ION-TOF USA soutient les découvertes scientifiques et les avancées dans les sciences des matériaux, la biotechnologie et au-delà. Les toutes nouvelles technologies M6 ToF-SIMS et SIMS hybrides de l'entreprise illustrent son engagement à répondre aux besoins évolutifs de la communauté scientifique.

ION-TOF USA continue d'élargir son offre et d'améliorer ses capacités, garantissant ainsi à ses clients l'accès aux solutions d'analyse de surface les plus avancées disponibles. ION-TOF USA se réjouit de soutenir vos efforts de recherche avec une technologie de pointe et un support client inégalé. Nous invitons le responsable d'ION-TOF USA à créer une vitrine d'entreprise et une liste de produits personnalisées et exclusives sur notre plateforme afin d'amplifier davantage votre portée et votre impact.